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Microscope électronique de laboratoire Sonde à balayage intégrée et sonde de scène d'échantillon Sondes de mode de contact de la pointe Microscope à force atomique Afm

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Microscope électronique de laboratoire Sonde à balayage intégrée et sonde de scène d'échantillon Sondes de mode de contact de la pointe Microscope à force atomique Afm
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Caractéristiques du produit

Autres caractéristiques

Point d'origine
Hunan, China
Type
Microscope électronique
Garantie
3 ans
Support personnalisé
OEM
Marque nom
EACHFINE
Numéro de Type
EF-afm
Dimension
30cm
Nom du produit
Microscope à force atomique Afm
Matériel
Résolution optique 2.5 um
Modes de travail
Mode de contact et mode de tapement
Taille de l'échantillon
≤ 90mm, H≤ 20mm
Gamme de mouvement d'échantillon
± 6.5mm
Largeur d'impulsion de Pas-moteur
10 ± 2ms
Points d'échantillonnage d'image
512*512
Taux d'échantillonnage de rétroaction
64 kHz
Application
École de laboratoire d'hôpital
Taux de balayage 0.6Hz ~ 4.34Hz
Angle de balayage 0 ° ~ 360 °

Emballage et livraison

Unités de vente :
Article unique
Taille du paquet individuel :
120X60X60 cm
Poids brut par article :
70.000 kg

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Prix de l’échantillon :
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